納米級(jí)紅外光譜:nanoIR 納米紅外光譜儀

從宏觀、亞微米到納米尺度的紅外光譜

nanoIR 納米紅外光譜儀：

布魯克公司是從宏觀、亞微米到納米尺度紅外光譜（nanoIR）領(lǐng)域的世界領(lǐng)導(dǎo)者。在納米尺度下的物理和化學(xué)性質(zhì)等測量方面，我們致力于為聚合物、二維材料、材料科學(xué)、生命科學(xué)和微電子工業(yè)等多個(gè)領(lǐng)域提供創(chuàng)新的產(chǎn)品和解決方案。

Anasys 納米紅外光譜儀（nanoIR) 已被多所知名大學(xué)、國家實(shí)驗(yàn)室和全球領(lǐng)先的化學(xué)/材料公司所采用。憑借高影響力和不斷增長的研究成果，通過廣大客戶的實(shí)際應(yīng)用，納米紅外光譜儀表現(xiàn)出了良好的易用性和高效性。

布魯克納米紅外光譜儀Anasys nanoIR3-專業(yè)級(jí)

產(chǎn)品介紹

10nm 空間分辨率化學(xué)成像和光譜

高性能納米級(jí) FTIR 光譜

只有 nanoIR3-s 能夠提供：

高性能納米級(jí) FTIR 光譜

高性能紅外近場光譜，采用目前先進(jìn)的納米紅外激光源

納米級(jí) FTIR 光譜，采用集成式DFG，可與寬帶同步輻射光源集成

適用于光譜和化學(xué)成像的多芯片 QCL 激光源

點(diǎn)光譜技術(shù)

POINTspectra 激光器可執(zhí)行多個(gè)波長的光譜分析和高分辨光學(xué)成像。nanoIR3-s讓測試更加簡單：

·在 AFM 圖像中選擇要測量的特征

·測量樣品的波譜，選擇感興趣的波長

·采集高分辨光學(xué)屬性圖

根據(jù)對(duì)多個(gè)波長的干涉圖的快速測量，獲得空間分辨率達(dá)到 10nm 的振幅和相位圖像實(shí)現(xiàn) 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于獨(dú)特的互補(bǔ)性紅外光譜分析。

支持全系列掃描探針顯微鏡模式

Contact Mode（接觸模式）

Tapping Mode（輕敲模式）

Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）

Phase Imaging（相位成像）

Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)

Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)

Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)

Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)

Force Curve Spectroscopy（力曲線）

Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）

Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）

SThM（掃描熱顯微鏡）

Nano-TA（納米熱分析）

LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）