Dimension FastScan 原子力顯微鏡、多功能的高速 AFM

Dimension FastScan® 原子力顯微鏡 （AFM） 系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計(jì)，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實(shí)現(xiàn)快速掃描。使用 FastScan，您可以即時(shí)快速地獲得 AFM 圖像，實(shí)現(xiàn)高性能 AFM 的預(yù)期高分辨率。無(wú)論您是以 >125Hz 掃描樣品表面尋找查找感興趣的區(qū)域時(shí)，或是在氣相或流體中以每秒 1 秒的速率采集AFM圖像，都能用FastScan得到優(yōu)異的高分辨圖像。Dimension FastScan這一變革性技術(shù)重新定義了 AFM 儀器的使用體驗(yàn)。

拒絕妥協(xié)

高速性能

隨時(shí)隨地在任何尺寸的樣品上進(jìn)行最高分辨率成像

實(shí)時(shí)

納米尺度動(dòng)力學(xué)

終極快速和穩(wěn)定的針尖掃描模式直接展現(xiàn)了氣相和液相中的動(dòng)態(tài)行為

自動(dòng)化

設(shè)置、數(shù)據(jù)采集和分析

驚人的操作簡(jiǎn)易性，杰出的生產(chǎn)力，讓用戶能專注于自己的研究工作。

特征：高速、高分辨率原子力顯微鏡的標(biāo)桿

Dimension FastScan 是高速針尖掃描原子力顯微鏡系統(tǒng)。Dimension FastScan 能在各種尺寸的樣品上實(shí)現(xiàn)高達(dá)每秒一幀的掃描速率，而不犧牲分辨率或任何儀器性能。結(jié)合 峰值力®輕敲模式，Dimension FastScan 使用線性控制回路實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)的力測(cè)量，從而在各種剛度的樣品表面上，無(wú)論是堅(jiān)硬平滑的晶體表面還是柔軟粗糙的聚合物表面上，都能獲得高分辨的形貌及力學(xué)性能。

點(diǎn)缺陷分辨率的方解石的剛度圖像。圖像尺寸為15 nm（面板 1）。亞分子分辨率級(jí)別的iPMMA 薄膜的粘附力分布圖像。 圖像大小為100 nm（面板 2）。樣品由馬丁-盧瑟-哈勒-維滕貝格大學(xué)的瑟恩-阿爾布雷希特教授提供。

配件：

布魯克 AFM 探針

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