Innova-IRIS 原子力-拉曼顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)、完整的TERS系統(tǒng)

Innova-IRIS

Innova-IRIS 結(jié)合了業(yè)界領(lǐng)先性能的AFM和布魯克專利的針尖增強(qiáng)拉曼光譜（TERS）探頭，能提供一整套完備、有保障的TERS解決方案。它與 Renishaw inVia 顯微拉曼系統(tǒng)完美融合，組成一個高效且完全集成的測量平臺，同時保留了每個獨立組件的功能， 可用于微、納米尺度各類性質(zhì)成像，可將 AFM 的應(yīng)用擴(kuò)展到納米光譜及納米化學(xué)分析領(lǐng)域。

聯(lián)合、原子力顯微鏡和拉曼顯微鏡

提供高性能的TERS和完整的SPM功能。

專屬、TERS 探頭

零光譜干擾，實現(xiàn)高空間分辨率成像和高性能TERS功能。

優(yōu)化、硬件和軟件

降低傳統(tǒng)TERS操作的復(fù)雜性。

特征：專為TERS設(shè)計

文獻(xiàn)研究表明光路離軸反射結(jié)構(gòu)是充分考慮探針尖端陰影和極化效應(yīng)條件下，實現(xiàn)最大光捕獲的最佳解決方案。Innova-IRIS 采用新型光學(xué)架構(gòu)，激發(fā)光從探頭的正面進(jìn)入探針-樣品交匯點，提供了理想的無障礙物光學(xué)路徑。

布魯克創(chuàng)新的樣品掃描 AFM 結(jié)合Renishaw InVia 顯微拉曼系統(tǒng)，通過聯(lián)合研發(fā)設(shè)計，在掃描過程中集成了獨特的光學(xué)"熱點"跟蹤方式，在拉曼較長信號積分時間內(nèi)，可以保持探針的完整性和精確定位，能滿足TERS成像的嚴(yán)苛要求。

關(guān)聯(lián)的互補(bǔ)數(shù)據(jù)：

Innova-IRIS 與 Renishaw InVia 的集成完全保留了 AFM 和拉曼顯微鏡的全部功能。單獨使用時，可以采用相對各自獨立的實時控制和數(shù)據(jù)分析軟件。通過系統(tǒng)集成，可實現(xiàn)互補(bǔ)的納米級形貌、熱、電學(xué)和力學(xué)信息測量的整合。

使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系統(tǒng)獲取的石墨烯AFM 形貌（左）和拉曼化學(xué)成像（右圖）。

配件：

布魯克 AFM 探針

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